光學(xué)測(cè)試是利用光學(xué)原理和技術(shù)對(duì)光學(xué)元件、系統(tǒng)或材料的性能和特性進(jìn)行測(cè)量與評(píng)估的一系列方法。它涉及光線的傳播、反射、折射、干涉、衍射等現(xiàn)象，以及光譜分析、成像質(zhì)量、輻射度量等多方面的測(cè)試。光學(xué)測(cè)試廣泛應(yīng)用于科學(xué)研究、工業(yè)制造、醫(yī)療健康、環(huán)境監(jiān)測(cè)等多個(gè)領(lǐng)域。

特點(diǎn)

非接觸性：多數(shù)光學(xué)測(cè)試技術(shù)是通過光與被測(cè)對(duì)象的相互作用來完成的，無需物理接觸，減少了對(duì)測(cè)試對(duì)象的潛在損害，適合于脆弱或敏感表面的檢測(cè)。

高精度與高靈敏度：光學(xué)測(cè)試能夠提供微米甚至納米級(jí)別的分辨率，對(duì)于細(xì)微結(jié)構(gòu)和微弱信號(hào)的檢測(cè)具有極高的靈敏度，適用于精密測(cè)量需求。

廣泛適用性：光學(xué)測(cè)試技術(shù)覆蓋了從可見光到紅外、紫外乃至X射線的寬廣光譜范圍，可以針對(duì)不同材料、結(jié)構(gòu)和功能進(jìn)行多樣化的測(cè)試，應(yīng)用領(lǐng)域廣泛。